V Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM

Ze względu na liczne prośby skierowane do Organizatorów, w dniu 28 listopada 2018 (środa) po południu odbędą się wykłady V Szkoły SPM (mikroskopii bliskich oddziaływań).
Jej program przewiduje prezentację cyklu 4 wykładów z podstaw technik oraz zastosowań skaningowej mikroskopii próbkującej, wśród nich:

• Skaningowa mikroskopia i spektroskopia tunelowa (STM, STS)
• Mikroskopia sił atomowych (AFM, nc-AFM, LFM, MFM)
• Mikroskopia SPM w ultrawysokiej próżni
• Zastosowania powietrznej mikroskopii AFM

Wykładowcami będą uznani specjaliści:

• prof. dr hab. Arkadiusz Ptak (Politechnika Poznańska)
• dr hab. Bartosz Such (Instytut Fizyki Uniwersytet Jagielloński)
• dr hab. Małgorzata Lekka (IFJ PAN Kraków)
• dr Jakub Prauzner-Bechcicki (Instytut FizykiUniwersytetu Jagiellońskiego)

Zapraszamy do uczestnictwa w Szkole studentów, doktorantów oraz wszystkich zainteresowanych poznaniem podstaw technik SPM.

Udział w Szkole dla zarejestrowanych uczetników Seminarium jest w tym roku bezpłatny!
Prosimy o zaznaczenie odpowiedniego pola na formularzu rejestracyjnym.

Dla uczestników V Szkoły SPM oraz X Seminarium STM/AFM 2018 będą możliwe indywidualne prezentacje sprzętu oraz demonstracje z możliwością pomiarów przywiezionych próbek na aparaturze udostępnianej na towarzyszącej Seminarium wystawie aparatury naukowej.