V Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM

O ile będzie takie zainteresowanie, podobnie jak w latach poprzednich, zorganizowana będzie Szkoła SPM (mikroskopii bliskich oddziaływań). Jej program obejmie podstawy technik oraz zastosowań skaningowej mikroskopii próbkującej, wśród nich: • Skaningowa mikroskopia i spektroskopia tunelowa (STM, STS) • Mikroskopia sił atomowych (AFM, nc-AFM, LFM, MFM) • Mikroskopia SPM w ultrawysokiej próżni • Zastosowania powietrznej mikroskopii AFM